Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: dspace.mspu.by/handle/123456789/3150
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorШепелевич, Василий Васильевич-
dc.contributor.authorМакаревич, Александр Викторович-
dc.date.accessioned2018-10-09T11:19:07Z-
dc.date.available2018-10-09T11:19:07Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.uridspace.mspu.by/handle/123456789/3150-
dc.descriptionШепелевич, В. В. Экспериментальное изучение зависимости коэффициента усиления предметной световой волны от пространственной ориентации и толщины кристалла Bi12GeO20 / В. В. Шепелевич, А. В. Макаревич // Физико-технические науки и образование: проблемы, инновации, перспективы = Physics and technology sciences and education: problems, innovations, perspectives : сборник научных статей / Министерство образования Республики Беларусь, Учреждение образования "Мозырский государственный педагогический университет имени И. П. Шамякина", Физико-инженерный факультет ; [редколлегия: И. Н. Ковальчук (ответственный редактор) и др.]. — Мозырь : МГПУ им. И. П. Шамякина, 2017. — С. 145—151.ru
dc.description.abstractВыполнены экспериментальные исследования зависимости коэффициента усиления предметной световой волны при двухволновом взаимодействии от ориентационного угла и толщины кубического фоторефрактивного оптически активного кристалла Bi12GeO20 с использованием только одного кристаллического образца среза (110) толщины 16 мм. Показано, что полученные экспериментальные результаты могут быть удовлетворительно теоретически интерпретированы только с учетом обратного пьезоэлектрического и фотоупругого эффектов в дополнение к традиционно рассматриваемому электрооптическому эффекту.ru
dc.language.isootherru
dc.publisherМозырь : МГПУ им. И. П. Шамякинаru
dc.subjectФизикаru
dc.subjectФоторефрактивный кристаллru
dc.subjectКристаллический образецru
dc.subjectЭлектрооптический эффектru
dc.titleЭкспериментальное изучение зависимости коэффициента усиления предметной световой волны от пространственной ориентации и толщины кристалла Bi12GeO20ru
dc.typeArticleru
Располагается в коллекциях:Сборники научных трудов

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Шепелевич, В. В., Макаревич, А. В. Экспериментальное изучение.pdf1,75 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.